荧光光谱测量系统
光谱测量系统 荧光光谱测量系统 荧光光谱测量系统的说明 荧光光谱测量系统的介绍 荧光光谱测量系统的特点 荧光光谱测量系统的简图
布鲁克/超轻便型直读光谱仪 Q2 ION
Bruker直读光谱仪 Q2  ION是世界上小，轻的紧凑型金属材料分析光谱仪。该仪器可配置为多基体系统，可用于复杂 金属合金材料的来料检验和质量控制。其实惠的价格，较低的操作成本，使其成为中小型企业的理想的分析仪器。
手持光谱仪,手提光谱仪,合金分析仪
新款快速手持式X射线荧光分析仪 - X-MET7000 eXpress款X-MET7000 eXpress在检测痕量元素时表现出佳性能，同时保证分析速度不受影响。X-MET7000 eXpress 使用牛津仪器 40 kV 的X射线光管和高分辨率高计数率硅漂移探测器(SDD)。我们的新款手持式X射线荧光分析仪拥有以下
X荧光光谱仪，深圳ROHS检测仪
高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。
荧光材料快速分析系统
我们提供多种可用于荧光测量的光谱仪，但是，建议在大多数荧光测量中，采用预先配置好的USB4000-FL光谱仪。该型光谱仪的可测波长范围是360-1000 nm，并且配有一个200-μm狭缝，和一个L4探测器聚光透镜，用来增加入射光。